X-4 顯微熔點儀
發(fā)布日期：2015-05-05 瀏覽：1955次
主要技術(shù)參數(shù)：
熔點測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時）
溫度顯示最小值： 1℃
熔點觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×
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